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                        熒光分布成像系統

                        發布時間:2020-01-08 09:39:57瀏覽次數:
                        產品創新點
                        上市時間:2019年10月
                        創新點主要有兩個方面:硬件方面:全球首創將將熒光分光度計與CMOS相機結合在一起,能夠同時觀察樣品光譜和圖像的技術。軟件方面:運用了智能光譜算法,可以獲取樣品任意區域的光譜信息。常規的熒光分光光度計測得的是樣品表面信息平均化的信號,得到的是一條熒光光譜,這個新的系統能夠對樣品表面進行分區,從而獲得不同區域的光譜信號,使得光譜信息細致化了。

                        產品簡介

                        1.  熒光分布成像系統(EEM View)簡介

                        作為熒光分光光度計的配件系統,這是全球首創將相機與熒光分光光度計的完美結合,融合了智能算法的先進技術。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。

                        新型熒光分布成像系統可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內。入射 光經過積分球的漫反射后均勻照射到樣品,利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,結合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像,并利用獨特的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光圖像。

                        2.  熒光分布成像系統特點:
                        ①測定樣品的光譜數據(反射光、熒光特性)
                        ②在不同光源條件下(白光和單色光)拍攝圖像(區域:Φ20mm、空間分辨率:0.1 mm左右、波長范圍:360-700nm)
                        ③利用自主研發的分析系統1),分開顯示熒光圖像和反射圖像
                        ④根據圖像可獲得不同區域的光譜信息(熒光光譜、反射光譜)

                         國立信息學研究所 佐藤IMARI 教授?鄭銀強副教授共同研究成果
                        熒光分布成像系統軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)

                         
                        樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試
                        樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!
                        豐富的樣品支架

                        支持精確測量的校正工具

                         
                        總結
                        以上為熒光分布成像系統的特點和功能結束,這是一種全新的技術,將它配置到熒光分光光度計中,改變了常規熒光光度計只能獲得樣品表面區域平均化信息的現狀,可以查看樣品圖像任意區域的光譜信息,十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領域。

                         
                        注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途


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